膜厚测试仪-一六仪器(在线咨询)-湖州测厚仪

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，湖州测厚仪，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，镀层膜厚仪，x射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中---种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，荧光测厚仪，多适用于抽样检验。

x射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

定位方式：

    1、移动平台：

       a、手动普通和带精密滑轨移动：装配设计不同---移位从0.5mm-0.005mm不等，移动的灵动性差距也很大。

       b、电动自动：装配设计不同---移位从0.2mm-0.002mm不等

但同样的手动或者自动，其定位---也相差很多。

     2、高度定位：

         a、手动变焦和无变焦

         b、激光对焦和ccd识别对焦