荧光测厚仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪

---势：

 下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽---范围0-90mm。

 微---射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

 精密微型滑轨：快速---定位样品。

 efp---算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，测厚仪厂家，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。