测厚仪-一六仪器有限公司-涂层测厚仪

一六仪器x射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质---

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散x荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

x射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的x 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、---、考古等诸多部门和领域。x 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，测厚仪，对产品和材料进行无损检测，镀层膜厚仪，对人体进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，x 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou  xuan器之一。