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一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，测厚仪，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

能量色散x荧光光谱仪定义及原理

x射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受x射线照射后，其中各元素原子的内壳层k，l或m层电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征x射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征x射线。能散型x射线荧光光谱仪edxrf利用荧光x射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的x射线。

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，电镀膜厚仪，称重法，x射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中---种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

x射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。